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基于条纹边缘解码的结构光三维测量技术
  • 期刊名称：电子器件，31(2)：389(392，2008.4
  • 时间：0
  • 相关项目：亚条纹采样密度的编码结构光三维测量理论与技术
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亚条纹采样密度的编码结构光三维测量理论与技术
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