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Improvement of sensitivity of eddy current sensors for nano-scale thickness measurement of Cu films
  • ISSN号:0963-8695
  • 期刊名称:NDT & E International
  • 时间:2013.10.9
  • 页码:53-57
  • 相关项目:纳米图案的旋转式近场光刻制造系统与关键技术
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