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Study of etched ion track profiles in silicon dioxide membrane
  • ISSN号:1350-4487
  • 期刊名称:Radiation Measurements
  • 时间:0
  • 页码:S627-S631
  • 语言:英文
  • 相关项目:荷能重离子径迹刻蚀法制备硅基膜纳米孔道
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