欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
成果数据库
>
期刊
> 期刊详情页
Mobility spectrum analysis of ion-etching-induced p-to-n type converted layers in HgCdTe single crys
期刊名称:Proc. of SPIE
时间:0
页码:8419121-8419126
相关项目:小光敏面积的碲镉汞长波红外探测器光电耦合的尺寸效应
作者:
qiaohui|
同期刊论文项目
小光敏面积的碲镉汞长波红外探测器光电耦合的尺寸效应
期刊论文 10
会议论文 1
同项目期刊论文
Application of Au/Sn in the formation of p-HgCdTe photoconductive detectors’ electrodes
结合AlGaN和PVDF的新型日盲紫外探测器的研究
中波HgCdTe光导探测器组件的故障树和失效研究
HgCdTe材料的溴-甲醇抛光工艺研究
紫外光通信误码率测试系统设计
GaN基雪崩光电二极管及其研究进展
两种不同方法测试HgCdTe材料少数载流子寿命
光电器件薄膜附着力评价方法的研究进展