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退火处理对掺锑Zn-Sn-O薄膜的特性的影响
  • ISSN号:1001-9731
  • 期刊名称:《功能材料》
  • 时间:0
  • 分类:TN304.2[电子电信—物理电子学] TN304.055[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]莱阳农学院理学院,山东莱阳265200, [2]莱阳农学院教育技术中心,山东莱阳265200, [3]山东大学物理与微电子学院,山东济南250100
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(60276044);教育部科学技术研究重点资助项目(重点02165)
中文摘要:

首次在低温下采用磁控射频溅射技术在玻璃衬底上制备出具有多晶结构的掺锑锌-锡-氧(Zn-Sn-O:Sb)透明导电膜。研究了在通氧气氛制备薄膜的特性以及退火处理对制备薄膜结构和光电性能的影响。经真空退火后,氩氧混合气体溅射制备的Zn-Sn-O:Sb透明导电膜的最小电阻率为4×10^-2Ω·cm,相应载流子浓度和霍尔迁移率分别为2.1×10^19cm^-3,8cm^2·V^-1·s^-1。薄膜的可见光平均透过率达到了92.4%。薄膜具有较高的热稳定性和化学稳定性,对玻璃衬底有良好的附着性。

英文摘要:

Polycrystalline Sn-Zn-O : Sb films are prepared on corning 7059 glass substrates at low-temperature by r. f. magnetron sputtering. The structural, electrical and optical properties of the deposited films have been studied together with the influence of the annealing temperature. The resistivity of the antimony-doped Sn-Zn-O film is 4 × 10^-2Ω·cm, the carrier concentration is 2.1 × 10^19cm^-3 and hall mobility 8cm^2 · V^-1 · s^-1. The average transmittance in the visible region reaches 92.4%.

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期刊信息
  • 《功能材料》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:重庆材料研究院
  • 主办单位:重庆材料研究院
  • 主编:黄伯云
  • 地址:重庆北碚区蔡家工业园嘉德大道8号
  • 邮编:400707
  • 邮箱:gnclwb@126.com
  • 电话:023-68264739
  • 国际标准刊号:ISSN:1001-9731
  • 国内统一刊号:ISSN:50-1099/TH
  • 邮发代号:78-6
  • 获奖情况:
  • 2008、2011年连续获中国精品科技期刊,2010获重庆市双十佳期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:30166