位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
利用定量相衬成像消除X射线同轴轮廓成像中散射的影响
  • ISSN号:1000-3290
  • 期刊名称:《物理学报》
  • 时间:0
  • 分类:O434.19[机械工程—光学工程;理学—光学;理学—物理]
  • 作者机构:[1]中国科学院上海应用物理研究所,上海201800
  • 相关基金:国家自然科学基金(批准号:10275087)、上海市自然科学基金(批准号:02ZF14116)和上海市科技发展基金(批准号:022261023)资助的课题
中文摘要:

在所有的相衬成像方法中,X射线同轴轮廓成像由于光路简单、不需要任何光学元件而备受关注.其缺点是无法直接消除散射的影响,从而限制了它在生物医学等领域中的应用.利用数字模拟方法研究了引入散射前后轮廓像的质量随样品到探测器距离的变化情况.模拟结果表明直接轮廓成像存在一个最佳成像距离,因而无法通过改变样品到探测器距离来减小散射的影响.利用定量相衬成像不受成像距离限制的特点,研究了远距离成像时散射的影响,结果表明,样品到探测器的距离增大到一个临界值时,散射对重构像的影响可降到一个极值,此时成像质茸得到了明显改善.

英文摘要:

X-ray in-line outline imaging (XILOI) attracts much attention in recent years, for its simple setup compared with other approaches. Unfortunately, scattering effect cannot be removed directly, which restricts seriously the applications of this method to fields like biomedical radiography. The scattering effect in XILOI was investigated by digital simulation, in which the sample- detector distance (SDD) was changed step by step. The results show that there is a best imaging distance for the direct outline imaging and it is impossible to eliminate the scattering by arbitrarily changing the distance in this case. This difficulty could be overcome by quantitative phase contrast imaging(QPCI), in which SDD can be adjusted freely using a reconstruction algorithm. According to the investigation using QPCI, the scattering effect can be reduced to a minimum by increasing the SDD to a critical value, at which distinct improvement of the image quality can be achieved.

同期刊论文项目
同项目期刊论文
期刊信息
  • 《物理学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会 中国科学院物理研究所
  • 主编:欧阳钟灿
  • 地址:北京603信箱(中国科学院物理研究所)
  • 邮编:100190
  • 邮箱:apsoffice@iphy.ac.cn
  • 电话:010-82649026
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3290
  • 国内统一刊号:ISSN:11-1958/O4
  • 邮发代号:2-425
  • 获奖情况:
  • 1999年首届国家期刊奖,2000年中科院优秀期刊特等奖,2001年科技期刊最高方阵队双高期刊居中国期刊第12位
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:49876