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Breakdown voltage analysis of Al0.25Ga0.75N/GaN high electron mobility transistors with the partial
ISSN号:1674-1056
期刊名称:Chinese Physics B
时间:2012.5
页码:1-8
相关项目:打破硅极限超低导通电阻功率器件关键技术研究
作者:
段宝兴|
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Breakdown voltage analysis of Al0.25Ga0.75N/GaN high electron mobility transistors with partial silicon doping in the AlGaN layer
期刊信息
《中国物理B:英文版》
中国科技核心期刊
主管单位:中国科学院
主办单位:中国物理学会和中国科学院物理研究所
主编:欧阳钟灿
地址:北京 中关村 中国科学院物理研究所内
邮编:100080
邮箱:
电话:010-82649026 82649519
国际标准刊号:ISSN:1674-1056
国内统一刊号:ISSN:11-5639/O4
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获奖情况:
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被引量:406