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The effects of finite metallisation thickness and conductivity in microstrip lines
期刊名称:The International Journal for Computation and Math
时间:2013.3.15
页码:495-503
相关项目:复杂条件下微波多层电路互连过孔结构最优设计及测试研究
作者:
Bo Gao|Ling Tong|Xun Gong|
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