位置：成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
X-Filling for Simultaneous Shift- and Capture-Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing
  • ISSN号：1063-8210
  • 期刊名称：IEEE Transactions on Very Large Scale Integration
  • 时间：0
  • 页码：1081-1092
  • 语言：英文
  • 相关项目：基于片上网络的系统芯片测试架构设计与优化研究
作者： Xu, Qiang|Hu, Yu|Li, Jia|Li, Xiaowei|
同期刊论文项目
基于片上网络的系统芯片测试架构设计与优化研究
期刊论文 6 会议论文 8
同项目期刊论文
Economic Analysis of Testing Homogeneous Manycore Chips
Lifetime Reliability for Load-Sharing Redundant Systems With Arbitrary Failure Distributions
电源线/地线网络开路电阻单故障分析方法