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Structural and optical study of irradiation effect in GaN epilayers induced by 308 MeV Xe ions
  • ISSN号：0618-583X
  • 期刊名称：Nuclear Instruments and Methods in Physics Researc
  • 时间：0
  • 页码：1782-1785
  • 语言：英文
  • 相关项目：GaN异质结的电子辐照损伤与回复
作者： L.Q.Zhang|T.D. Ma|X.J.Jia|C.H.Zhang|L.M.Zhang|
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