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Investigations into the measurement sensitivity distribution of coplanar capacitive imaging probes
  • ISSN号：0963-8695
  • 期刊名称：NDT & E International
  • 时间：2013.9
  • 页码：1-9
  • 相关项目：基于共面边缘场电容成像原理的无损检测技术研究
作者： Xiaokang Yin|David A Hutchins|Guoming Chen|Wei Li|
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