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Preliminary studies on the design principles of capacitive imaging probes for non-destructive evalua
  • ISSN号：1383-5416
  • 期刊名称：International Journal of Applied Electromagnetics
  • 时间：2013
  • 页码：447-470
  • 相关项目：基于共面边缘场电容成像原理的无损检测技术研究
作者： Yin, Xiaokang|Hutchins, David A.|Chen, Guoming|Li, Wei|
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