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一种改进的层次化SOCs并行测试封装扫描单元
  • ISSN号:0372-2112
  • 期刊名称:电子学报
  • 时间:2012
  • 页码:949-954
  • 分类:TP206.1[自动化与计算机技术—控制科学与工程;自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
  • 作者机构:[1]哈尔滨工业大学自动化测试与控制系,黑龙江哈尔滨150001
  • 相关基金:国家自然科学基金(No.61102036)
  • 相关项目:面向TSV的三维SoC可测性设计与优化方法研究
中文摘要:

航天等领域对集成电路可靠性要求较高,要求其具有在线测试功能,以便及时发现故障,减少损失.结合现有扫描设计方法,设计了一种改进的扫描单元结构.将该扫描单元应用于时序电路后,能够在电路工作的同时进行测试;通过灵活的时钟选择机制,方便地控制电路进行非并发和并发测试.仿真实验表明,应用本文提出的扫描单元,时序电路能够在增加一定硬件冗余的条件下实现在线测试,时间开销较小,有较高的可靠性和一定的容错能力,实用性强.

英文摘要:

For a high reliability, on-line testing is efficient in detecting faults on the early stage. A novel scan cell is proposed based on the conventional scan cell, which can protect the operational status from being changed during test. The test process and the functional operation of sequential circuit go in parallel. With a flexible clock selection mechanism utilized, both non-concurrent test and concurrent test can be operated. Simulation results show that these circuits can be test on-line with moderate hardware redundan- cy, high stability, and negligible time redundancy.

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期刊信息
  • 《电子学报》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学技术协会
  • 主办单位:中国电子学会
  • 主编:郝跃
  • 地址:北京165信箱
  • 邮编:100036
  • 邮箱:new@ejournal.org.cn
  • 电话:010-68279116 68285082
  • 国际标准刊号:ISSN:0372-2112
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2087/TN
  • 邮发代号:2-891
  • 获奖情况:
  • 2000年获国家期刊奖,2000年获国家自然科学基金志项基金支持,中国期刊方阵“双高”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:57611