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Secondary resonance magnetic force microscopy using an external magnetic field for characterization
  • ISSN号:0003-6951
  • 期刊名称:Applied Physics Letters
  • 时间:2015.9.7
  • 页码:-
  • 相关项目:Bi1-XRXFeYCo1-YO3磁电信息功能材料制备、性能及调制研究
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