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Suppression of tunneling leakage current in junctionless nanowire transistors
  • ISSN号：0268-1242
  • 期刊名称：Semiconductor Science and Technology
  • 时间：2013.9.9
  • 页码：1-6
  • 相关项目：纳米FinFET器件的退化模型和失效机理研究
作者： Haijun Lou|Dan Li|Yan Dong|Xinnan Lin|Jin He|Shengqi Yang|Mansun Chan|
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