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稳定燃弧条件下继电器触头蒸发侵蚀特性的研究
  • ISSN号:2095-8188
  • 期刊名称:《电器与能效管理技术》
  • 时间:0
  • 分类:TM58[电气工程—电器]
  • 作者机构:哈尔滨工业大学电气工程及其自动化学院,黑龙江哈尔滨150001
  • 相关基金:国家自然科学青年基金资助项目(51307030)
中文摘要:

蒸发导致的触头材料侵蚀是触头分断小电流时性能退化和失效主要原因。采用气体动力学与熔池特性仿真相结合的方法研究铜触头在稳态电弧条件下的蒸发物理过程。建立触头内部熔池三维磁流体动力学模型,对熔池内部传热和流动过程进行模拟。利用气体动力学模型获得稳态燃弧条件下蒸发通量与熔池表面温度之间的关系。根据触头表面温度分布以及蒸发通量与温度之间的关系,得到稳态电弧作用下的触头蒸发侵蚀速率。

英文摘要:

Contact erosion due to evaporation is the m ain cause fo r the contact perform ance de terioration andfa ilu re under sm all break current. M o lten pool heat transfer and flu id flo w phenom ena in copper contacts werecoupled w ith the gas dynam ics at various locations above the contact to determ ine the evaporation rate under stablearc. The three-dim en sional M H D m odel was set up fo r the m olten pool in the contact. The re la tionsh ip between theevaporation flu x and the surface tem perature o f the m olten pool was obtained w ith gas dynam ics m odel. Theevaporation rate un der stable arc was calcula ted based on the m olten pool surface tem perature d is trib u tio n and there la tionsh ip between the evaporation flu x and the tem perature.

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期刊信息
  • 《电器与能效管理技术》
  • 北大核心期刊(2008版)
  • 主管单位:上海市经济和信息化委员会
  • 主办单位:上海电器科学研究所(集团)有限公司
  • 主编:邹其文
  • 地址:上海市武宁路505号
  • 邮编:200063
  • 邮箱:lva@seari.com.cn
  • 电话:021-62543397
  • 国际标准刊号:ISSN:2095-8188
  • 国内统一刊号:ISSN:31-2099/TM
  • 邮发代号:4-200
  • 获奖情况:
  • 全国期刊奖,国家“双百”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版)
  • 被引量:539