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考虑偏置温度不稳定性的软差错率分析
  • ISSN号:1009-5896
  • 期刊名称:《电子与信息学报》
  • 时间:0
  • 分类:TN492[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]湘潭大学信息工程学院,湖南湘潭411105, [2]中国科学院计算技术研究所计算机体系结构国家重点实验室,北京100190
  • 相关基金:国家自然科学基金项目(61432017)
中文摘要:

处理器的设计越来越复杂,如何对处理器进行完备的功能验证面临着巨大的挑战.针对一款基于可扩展处理器架构(scalable processor architecture,SPARC)V8指令集体系结构的系统芯片进行验证,提取了该芯片的验证功能点,搭建了结果自动比对的验证平台.该平台采用定向测试用例生成和约束随机测试用例生成相结合的方式产生测试用例以支持各种功能场景的验证.项目仍处于验证实施过程中,目前已设计了170个测试用例,对125个验证功能点中的109个进行了覆盖,达到了84%的功能覆盖率,并发现了7处设计错误.

英文摘要:

The designs of the processor are becoming increasingly complex, and how to achieve adequate functional verification of the processor is facing great challenge. In this paper, a SoC based on the SPARC V8 instruction set architecture was verified, including extracting the verification functional points of the chip and setting up a verifica- tion platform which supports automatically comparison of the simulation results. The platform adopts the directed test case generation and the constraint based random test case generation to generate test cases to support verification of a variety of functional scenarios. The project is still under way, and until now, 170 test cases were designed and 109 of the 125 verification function points were covered, with the functional coverage of 84%. 7 design bugs have been caught to improve the design.

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期刊信息
  • 《电子与信息学报》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国科学院电子学研究所 国家自然科学基金委员会信息科学部
  • 主编:朱敏慧
  • 地址:北京市北四环西路19号
  • 邮编:100190
  • 邮箱:jeit@mail.ie.ac.cn
  • 电话:010-58887066
  • 国际标准刊号:ISSN:1009-5896
  • 国内统一刊号:ISSN:11-4494/TN
  • 邮发代号:2-179
  • 获奖情况:
  • 国内外数据库收录:
  • 荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版)
  • 被引量:24739