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基于寄生参数的功率MOSFET数学建模及损耗分析
  • ISSN号:1006-3080
  • 期刊名称:《华东理工大学学报:自然科学版》
  • 时间:0
  • 分类:TN386[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]安徽大学电气工程与自动化学院,合肥230601, [2]安徽大学高节能电机及控制技术国家地方联合实验室,合肥230601, [3]安徽大学教育部电能质量工程研究中心,合肥230601, [4]安徽大学安徽省工业节电与用电安全实验室,合肥230601, [5]安徽大学工业节电与电能质量控制协同创新中心,合肥230601
  • 相关基金:安徽省自然科学基金(1308085ME81); 安徽省高校自然科学基金(KJ2013A011); 国家自然科学基金(51307002)
中文摘要:

为了精确地描述功率金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)的开关特性,建立了一种基于MOSFET的寄生参数(Miller电容和寄生电感)的数学模型。该模型中采用拟合法分别构建Miller电容的数学表达式和转移特性的数学表达式,并详细推导了开关过程中电压和电流的数学表达式。针对关断后出现的电压、电流振荡建立的物理等效电路进行了分析。越精确的电压和电流数学表达式越能准确地反映功率MOSFET的开关损耗。仿真实验验证了本文数学分析模型和物理等效电路的正确性和有效性。

英文摘要:

In order to accurately describe the switching characteristic of power metal-oxide semiconductor field-effect transistor (MOSFET), a model based on parasitic parameters (Miller capacitance and parasitic inductance) was proposed in this paper. The mathematical expressions of both Miller capacitance and transfer characteristic were established by means of fitting method, respectively, and the mathematical expressions on voltage and current were also derived in detail. Moreover, the analysis on equivalent physical circuit was made for the voltage and current oscillation after being turned off. The more precise both voltage and current mathematical expressions are, the more accurate the reflection on loss of power MOSFET is. The simulation results verify the effectiveness of the proposed mathematical analysis model and equivalent physical circuit.

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期刊信息
  • 《华东理工大学学报:自然科学版》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:教育部
  • 主办单位:华东理工大学
  • 主编:刘红来
  • 地址:上海梅陇路130号
  • 邮编:200237
  • 邮箱:ecustxbbzz@ecust.edu.cn
  • 电话:021-64252666
  • 国际标准刊号:ISSN:1006-3080
  • 国内统一刊号:ISSN:31-1691/TQ
  • 邮发代号:4-382
  • 获奖情况:
  • 2001年被国家新闻出版总署评为"中国期刊方阵科技...,2002年获"第五届全国石油和化工行业优秀期刊二等奖",2004年获"全国高校优秀科技期刊二等奖",2006年荣获"首届中国高校优秀科技期刊奖"以及"第...
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:10083