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Remote phonon and impurity screening effect of substrate and gate dielectric on electron dynamics in
  • ISSN号：0003-6951
  • 期刊名称：Applied Physics Letters
  • 时间：2013
  • 页码：749-
  • 相关项目：基于二维纳米材料的半导体器件模拟方法研究
作者： Zeng, Lang|Xin, Zheng|Chen, Shaowen|Du, Gang|Kang, Jinfeng|Liu, Xiaoyan|
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