中文摘要：

晶体缺陷在炸药的制备过程中不可避免并且对炸药的安全性具有重要影响。小角散射技术可以精确的测量炸药的缺陷，是研究炸药缺陷的有力工具。本项目拟采用中子小角散射技术的衬度变换方法，对比研究不同感度、不同制备工艺RDX、HMX炸药晶体的内部缺陷、表面缺陷以及积分不变量等结构信息，初步建立感度、制备工艺与中子小角散射结果（内部缺陷、表面缺陷）的关联。采用X射线小角散射技术研究RDX、HMX高品质炸药晶体的各向异性散射问题，获得不同晶体学取向上各向异性缺陷的比率，结合炸药晶体结构、形核生长理论和其它表征技术研究各向异性缺陷的存在形式和成因，进而为提高炸药的安全性提供新的解决思路。本项目拟针对特定炸药散射体系，进一步完善自主开发的MySAS小角散射数据分析软件。本项目拟取得的研究成果对提高炸药的安全性以及研发下一代新型炸药具有重要意义。