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含纳米硅团簇的稀土掺杂绝缘体上的硅基膜体系增强发光机理
  • 项目名称:含纳米硅团簇的稀土掺杂绝缘体上的硅基膜体系增强发光机理
  • 项目类别:青年科学基金项目
  • 批准号:10605007
  • 申请代码:A050406
  • 项目来源:国家自然科学基金
  • 研究期限:2007-01-01-2009-12-31
  • 项目负责人:程向前
  • 负责人职称:讲师
  • 依托单位:北京师范大学
  • 批准年度:2006
中文摘要:

硅基光电子技术正在向纳米尺度发展,研究高效发光的新型硅基光电子薄膜材料,实现硅基纳米电子和光电子集成。利用强流离子注入技术和热处理加工,使用变化剂量和能量的Ge、Si离子注入到SiO2薄膜中,研究摻杂、辐射效应对GeSi量子点形成及其GeSi/SiO2薄膜发光的影响。使用SRIM模拟了原子位移率DPA,通过比较发光光谱和模拟结果,讨论了缺陷的形成和薄膜的发光机制。研究了铝掺杂对SiGe/ SiO2薄膜晶化和发光的影响,探讨了铝摻杂对SiGe成核和Si、Ge原子扩散和薄膜光致发光的影响。使用不同比例的Ar/O2溅射Si、Ge靶材,然后通过退火形成量子点,研究了溅射气体成分对薄膜微观结构和光学特性的影响。

结论摘要:

英文主题词Ion implantation; Semiconductor quantum dots; Photoluminescence; Silicon; Germanium


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