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嵌于硅基体中的Ge-Si纳米团的离子束辅助固相外延生长及其性能的探索性研究
  • 项目名称:嵌于硅基体中的Ge-Si纳米团的离子束辅助固相外延生长及其性能的探索性研究
  • 项目类别:青年科学基金项目
  • 批准号:60706001
  • 申请代码:F0401
  • 项目来源:国家自然科学基金
  • 研究期限:2008-01-01-2010-12-31
  • 项目负责人:肖清华
  • 负责人职称:高级工程师
  • 依托单位:北京有色金属研究总院
  • 批准年度:2007
中文摘要:

集成电路技术快速发展,单个晶体管尺寸正逐渐接近其物理极限。在基底材料硅中引入纳米结构,有可能实现其能带结构的调整,因此或许是突破这种物理极限的一条重要路径。本项目开展了离子注入辅助以固相外延法制备SiGe纳米团的研究,探索了多步离子注入和不同退火工艺对微结构的影响研究,形成了硅衬底中引入嵌入式SiGe纳米结构的可控性初步方案,其尺寸、密度、位置多能通过固相外延得到控制。通过不同激光波长的拉曼谱测试,与此类结构有关的应变特性得到深入研究。这种嵌入式纳米结构在572.9nm、581.2nm、630.3nm波长处存在室温下光致发光效应得到证实。

结论摘要:

英文主题词nanoclusters, SiGe, ion implantation, solid phase epitaxy, defect, photoluminescence


成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
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  • 著作
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  • 1
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