本项目采用分子气相沉积方法制备半晶性和结晶性有机半导体薄膜,通过原子力显微镜、电子显微镜、X-射线衍射、热分析等主要研究手段,系统研究了衬底类型和衬底生长温度对薄膜形态结构的影响。通过薄膜形态结构与器件性质关联研究,建立形态结构与器件性能之间的联系,进一步指导高功能有机半导体器件的性能优化。特别是在五氧化二钽表面能够原位生长出高取向a相多晶金属酞菁薄膜,该类薄膜具有非常高的载流子迁移率性质。器件工艺兼容现有工业技术,同时兼容柔性衬底。研究成果表现形式目前主要是突出自主知识产权的形成。申请中国发明专利5项,其中部分申请美国发明专利2项,欧洲和日本发明专利各1项。
英文主题词organic transistors; organic semiconductors; organic electronics