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针对多核系统芯片寿命可靠性的跨层次分析与优化研究
  • 项目名称：针对多核系统芯片寿命可靠性的跨层次分析与优化研究
  • 项目类别：国际(地区)合作与交流项目
  • 批准号：61261160501
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：杨华中
  • 依托单位：清华大学
  • 批准年度：2012
成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 1
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期刊论文
Technological Exploration of RRAM Crossbar Array for Matrix-Vector Multiplication
杨华中的项目
SOC低功耗电路与系统设计方法
期刊论文 55 会议论文 59 著作 2
电路与系统
期刊论文 2
针对结构健康监测的无线传感网校准问题研究
期刊论文 1
面向物联网的常关型非易失智能计算芯片
低功耗电路与系统设计方法在无线SOC中的应用
期刊论文 22
　无线传感器网络的低功耗技术
期刊论文 8