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芯片-封装交互影响分析方法和低K介质断裂机理研究
项目名称:芯片-封装交互影响分析方法和低K介质断裂机理研究
项目类别:面上项目
批准号:61774044
项目来源:国自然科学基金
研究期限:2018-01-2021-12
项目负责人:王珺
依托单位:复旦大学
批准年度:2017
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