中文摘要：

钚，作为制造核武器的材料，其同位素丰度（即材料中238Pu 、239Pu、 240Pu、 241Pu的含量）是关键指标之一。利用HPGe谱仪直接测量出钚样品的Gamma射线谱，不破坏样品即可分析出该指标的方法在速度、成本、样品代表性及安全性方面都大大优于基于破坏性取样的质谱法和化学分析方法。钚样品Gamma射线能谱中分支比最强的能区为94-104keV，然而该能区含有22条x及Gamma射线且相互重叠，在我们的工作之前有且只有美国历经了30多年研发的MGA软件可用于分析该能区。06年，我们成功对该能区进行拟合，给出了各条射线对能谱的贡献及钚的丰度值。现在，该工作仍存在两方面可改进及进一步验证的必要。一旦完成，该工作将在我国的核武器制造、核安全保障及军控核查技术方面起到积极作用，极有希望在打破美国MGA软件的独霸地位，拥有自己的源程序带来的各种方便。所建立的分析方法可以推广使用。