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中文摘要：
本项目研究和发展了一种新型的凝视式阵列型磁光kree效应测量方法，并将此方法应用于磁光材料的微区特性检测和分析。研究中所实现的方法，可用于磁材料微区特性的非接触无损分析，还可用于材料和器件的工艺质量检测分析，具有我国自主知识产权。在研究中，采用了多种新技术和方法。实验系统由氙灯光源、液晶偏振器件、永磁体和高精度CCD探测器等器件构成。对典型FeTbCo样品进行了分析测量，在无机械位移条件下，测量到与9x9μm像素面积对应的微区克尔效应。在此基础上，不研究了双重傅立叶变换的红外椭圆偏振光谱，以及多种金属和磁光材料的光学和磁光性质，所发表的研究成果具有实际应用价值，可在高技术领域获得推广和应用。
结论摘要：
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