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　基于纳米压痕划痕测量技术的光学元件亚表面质量研究
  • 项目名称：　基于纳米压痕划痕测量技术的光学元件亚表面质量研究
  • 批准号：10R21416000
  • 项目来源：2010年度上海市博士后科研资助计划项目
  • 研究期限：2010-01-
  • 项目负责人：马彬
  • 依托单位：同济大学
  • 批准年度：2010
马彬的项目
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期刊论文 7