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高分辨电子显微像的图像处理
  • 项目名称：高分辨电子显微像的图像处理
  • 项目类别：面上项目
  • 批准号：19674072
  • 申请代码：A040101
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1997-01-01-1999-12-01
  • 项目负责人：李方华
  • 负责人职称：研究员
  • 依托单位：中国科学院物理研究所
  • 批准年度：1996
中文摘要：

建立了测定原子分辩率晶体缺陷的新方法。从一幅场发射高分辩电子显微像出发，无需结合电子衍射信息，经过解卷处理，即可清晰分辩晶体缺陷区的单个原子。用此方法研究了Ge Si外延膜与衬底Si之间的缺陷，得到了60拔淮矸纸馕礁霾蝗淮恚浼浼凶乓黄愦淼脑臃直缏释枷瘛７⒄沽吮鞠钅可昵肴说人⒌牟舛ň褰峁沟牡缱泳逖Ф酵枷翊矸椒ǎ孕ＵρУ缱友苌湫вψ隽松钊氲难芯浚越饩泶碇忻菜贫嘟獾南窒蠼辛松钊胂钢碌姆治觯妨⒘颂粞≌娼獾姆椒ǎ慕说髦平峁沟慕饩砗拖辔煌馔撇街瑁诖嘶∩喜舛怂母鑫⑿【宓奈粗峁梗渲辛礁鍪歉呶鲁蓟衔锖鸵桓鲇敫呶鲁加泄氐幕衔铮幸桓龉群鸵桓鑫薰鹊髦平峁埂?Esummary=

中文主题词： 高分辨电子显微像 图像处理 晶体缺陷
成果综合统计
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