位置：成果数据库 > 著作 > 著作详情页
Solving the inverse problem in HREM
  • 所属机构名称：中国科学院物理研究所
  • 成果类型：著作
  • 出版社：J. Chinese Electron Microscopy
  • 语言：英文
  • 相关项目：高技术新材料原子分辨率晶体缺陷研究
作者： F.H. Li|
同著作项目
高技术新材料原子分辨率晶体缺陷研究
会议论文 11 著作 5
同项目著作
GaN 场发射高分辨电子显微像的图像处理 ( 显示GaN中原子分辨率晶体缺陷的可能性
电子晶体学图像处理及其在材料科学中的应用
衍射晶体学在高分辨电子显微学求逆中的作用
Effect of diffraction crystallography on HREM