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测试集划分的多扫描链二次测试数
  • 所属机构名称：合肥工业大学
  • 会议名称：全国第17届计算机科学与技术应用学术会议，中国科学技术大学出版社出版，2006.7
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：系统芯片SoC外建自测试方法研究
作者： 张磊，梁华国，陶珏辉
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