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基于多扫描链分组列相容的测试数
  • 所属机构名称：合肥工业大学
  • 会议名称：第十二届全国容错计算学术会议，2007年7月，北京
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：系统芯片SoC外建自测试方法研究
作者： 时峰，梁华国，詹文法，詹凯华
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