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Dual-modulated and dual-light-path spectrometer for modulated reflectance measurement
  • 所属机构名称：中国科学院上海技术物理研究所
  • 会议名称：IEEE PhotonicsGlobal at Singapore
  • 成果类型：会议
  • 会场：Singapore, SINGAPORE
  • 相关项目：全波段室温型高性能锰钴镍薄膜探测器研究
作者： Huang, Zhiming|Hou, Yun|Qin, Jianhuan|Zhang, D. H.|Chu, Junhao|
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