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Electrical and optical properties of Mn1.56Co0.96Ni0.48O4 films for infrared detection
  • 所属机构名称：中国科学院上海技术物理研究所
  • 会议名称：international Symposium on Photoelectronic Detection and Imaging 2009
  • 成果类型：会议
  • 会场：北京
  • 相关项目：全波段室温型高性能锰钴镍薄膜探测器研究
作者： Wu, J.|Huang, Z. M.|Chu, J. H.|Gao, Y. Q. |Hou, Y.|
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