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Crystal defect determination at atomic resolution
  • 所属机构名称：中国科学院物理研究所
  • 会议名称：European School on Electron Microscopy, June (2001) Barcelona, Spain
  • 语言：英文
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：高技术新材料原子分辨率晶体缺陷研究
作者： F.H. Li|
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