位置：成果数据库 > 会议 > 会议详情页
Combination of diffraction crystallogr- aphy and high-resolution electron microscopy: (2) Crystal st
  • 所属机构名称：中国科学院物理研究所
  • 会议名称：International School for Electron Crystallography
  • 语言：英文
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：高技术新材料原子分辨率晶体缺陷研究
作者： F.H. Li|H. Jiang|
同会议论文项目
高技术新材料原子分辨率晶体缺陷研究
会议论文 11 著作 5
同项目会议论文
Effect of diffraction crystallography on the enhancement of high-resolution electron micro-scopy
电子晶体学及其在材料科学中的应用
La2CuO4与La2Cu0.925V0.075O4 ( 晶体的电子衍射研究
Combination of diffraction crystallog- raphy and high-resolution electron microscopy: (1) Theory and
Field-emission hrtem study on the interface structure at atomic scale
Crystal defect determination at atomic resolution
Image Contrast in HREM ( a discussion on the validity of WPOA
外延膜界面原子分辨率晶体缺陷的研究
Enhancement of high-resolution elec- tron microscopy by electron diffraction
Image deconvolution ( an effective technique in HREM