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用一种近似随机模型分析超大规模集成电路几何尺寸随机性对互连线寄生特性的影响
  • 所属机构名称：中国科学院电工研究所
  • 会议名称：The 15th Biennal IEEE Conference on Electromanetic Field Computaion
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：随机有限元在集成电路互连线寄生参数提取中的应用研究
作者： 徐小宇|
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