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Analysis of capacitance-voltage-temperature (C-V-T)
  • 所属机构名称：中国科学院微电子研究所
  • 会议名称：2014 International Workshop on Nitride Semiconductors,
  • 时间：2014.8.25
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：AlGaN/GaN HEMT低频噪声与器件可靠性相关性的研究
作者： 赵妙/刘新宇|
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