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Low frequency noise measurements as a
  • 所属机构名称：中国科学院微电子研究所
  • 会议名称：The 11th IEEE International Conference on Power Electronics and Drive Systems（PEDS 2015）
  • 时间：2015.6.10
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：AlGaN/GaN HEMT低频噪声与器件可靠性相关性的研究
作者： 赵妙/刘新宇|
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