位置:成果数据库 > 会议 > 会议详情页
Through-Silicon Via (TSV) Capacitance Modeling for 3D NoC Energy Consumption Estimation
  • 所属机构名称:西安电子科技大学
  • 会议名称:Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 2010 10th IEEE International Conference on
  • 时间:2010.11.11
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:三维器件结构多内核处理器互连低功耗技术
同会议论文项目
期刊论文 6 会议论文 7 专利 7 著作 1
同项目会议论文