Through-Silicon Via (TSV) Capacitance Modeling for 3D NoC Energy Consumption Estimation
- 所属机构名称:西安电子科技大学
- 会议名称:Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 2010 10th IEEE International Conference on
- 时间:2010.11.11
- 成果类型:会议
- 相关项目:三维器件结构多内核处理器互连低功耗技术