位置:成果数据库 > 会议 > 会议详情页
Study of the stacking faults in a- plane GaN on r-plane sapphire grown by metal-organic chemical vap
  • 所属机构名称:北京大学
  • 会议名称:The 8th international conference on Nitride Semiconductors
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:GaN基异质结构的光学偏振问题及其控制
同会议论文项目
期刊论文 39 会议论文 6 专利 4
同项目会议论文