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Study of the integrated growth of dielectric films on GaN semiconductor substrates
  • 所属机构名称：电子科技大学
  • 会议名称：IMF-ISAF-2009
  • 成果类型：会议
  • 会场：西安
  • 相关项目：铁电－铁磁多层复合薄膜中界面应力对结构和性能作用规律的研究
作者： Li, Yanrong|Zhu, Jun|Luo, Wenbo|
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