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湿化学腐蚀法研究 GaN 薄膜中的位错
所属机构名称:南京大学
会议名称:第十五届全国半导体材料、微波器件和光电器件学术会议
成果类型:会议
相关项目:新型快速响应RCE紫外探测器的基础研究
作者:
赵红,韩平,梅琴,刘斌,陆海,谢自力,张荣,郑有炓|
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