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依概率P修如新的贮存可靠性模型及其参数估计
  • 期刊名称：质量与可靠性
  • 时间：0
  • 页码：17-19
  • 语言：中文
  • 相关项目：电子产品贮存期评估的加速寿命试验方法与应用
作者： 张永进|
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