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电子产品贮存期评估的加速寿命试验方法与应用
  • 项目名称:电子产品贮存期评估的加速寿命试验方法与应用
  • 项目类别:面上项目
  • 批准号:70571018
  • 申请代码:G0111
  • 项目来源:国家自然科学基金
  • 研究期限:2006-01-01-2008-12-31
  • 项目负责人:赵明
  • 负责人职称:教授
  • 依托单位:贵州大学
  • 批准年度:2005
中文摘要:

本项目从工程背景与问题出发,提出了综合应用加速寿命试验、失效物理分析、现场数据分析、质量保障工程等技术,研究电子产品贮存期可靠性评估方法。在课题组的共同努力及协作单位的大力支持下,本项目从理论到工程应用上都取得了一些重要成果,达到预期研究目标。 此报告为本项目四年研究的结题报告,重要的研究成果有 1、课题组在研究过程中认识到,贮存可靠性评估的一个基本问题就是要能够确定没有早期失效进入贮存过程。通过大量的环境应力筛选试验及研究,给出了有效的环境应力筛选方法,为进一步研究贮存可靠性奠定了良好基础。该成果已进入实际的工程应用。 2、通过对贮存期电子产品寿命问题的深入研究,提出了在不同的环境下电子产品寿命评估模型及其相关参数估计,其成果已在SCI、EI和国内核心等期刊上公开发表。另外课题组从系统可靠性与安全性角度出发,在软件可靠性与安全性、算法算子等方面也展开了相关研究,相关成果已公开发表在SCI、EI和国内核心等期刊上。 3、通过与国际可靠性专家、学者的有效交流与合作,不仅提高了本项目的研究视野,也更好地培养了本方向的硕士和博士研究生,为该方向的深入研究提供人才保障。

结论摘要:

英文主题词Accelerated lifetime testing; Storage reliability; Environment stress screen; Maintainability; Failure mechanism analysis


成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
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  • 著作
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  • 12
  • 0
  • 0
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