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分数维方法研究GaAs薄膜中的极化子
  • ISSN号:1000-3290
  • 期刊名称:《物理学报》
  • 时间:0
  • 分类:O471.3[理学—半导体物理;理学—物理]
  • 作者机构:[1]北京师范大学物理系,北京100875, [2]装甲兵工程学院基础部,北京100072
  • 相关基金:国家自然科学基金(批准号:10574011,10974017)资助的课题
中文摘要:

本文采用分数维方法,在讨论Al0.3Ga0.7As衬底上GaAs薄膜的分数维基础上,计算了GaAs薄膜中的极化子结合能和有效质量.随着薄膜厚度的增加,极化子结合能和质量变化单调地减小.当薄膜厚度Lw〈70A并且衬底厚度Lb〈200A时,衬底厚度的变化对薄膜中极化子的结合能和质量变化的影响比较显著,随着衬底厚度的增加,薄膜中极化子的结合能和质量变化逐渐变大;当薄膜厚度Lw〉70A或者衬底厚度Lb〉200A时,衬底厚度的变化对薄膜中极化子的结合能和质量变化的影响不显著.研究结果为GaAs薄膜电子和光电子器件的研究和应用提供参考.

英文摘要:

Within the framework of the fraction-dimensional space approach, the binding energy and the effective mass of a polaron confined in a GaAs film deposited on Al 0.3 Ga 0.7 As substrate have been investigated. It is shown that the polaron binding energy and mass shift decrease monotonously with increasing film thickness. For the film thickness of L w < 70 A and the substrate thickness of L b < 200 A, the substrate thickness will influence the polaron binding energy and mass shift. The polaron binding energy and mass shift increase with increasing substrate thickness. In the region L w > 70 A or L b > 200 A, the substrate thickness has no influence on the polaron binding energy and mass shift.

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期刊信息
  • 《物理学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会 中国科学院物理研究所
  • 主编:欧阳钟灿
  • 地址:北京603信箱(中国科学院物理研究所)
  • 邮编:100190
  • 邮箱:apsoffice@iphy.ac.cn
  • 电话:010-82649026
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3290
  • 国内统一刊号:ISSN:11-1958/O4
  • 邮发代号:2-425
  • 获奖情况:
  • 1999年首届国家期刊奖,2000年中科院优秀期刊特等奖,2001年科技期刊最高方阵队双高期刊居中国期刊第12位
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:49876