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半导体薄膜发光谱的修正

期刊名称：实验室研究与探索V25，p418-420，2006
时间：0
分类：TH74[机械工程—光学工程;机械工程—仪器科学与技术;机械工程—精密仪器及机械]
作者机构：[1]天津大学材料与科学工程学院,天津300072
相关基金：国家自然科学基金（50402010）,天津市自然科学重点基金（043800711）
相关项目：硅量子点的异常结构及其高效率蓝光发射研究－－制备、表征及电致

作者：杜希文，符杨，孙景

关键词：分光光度计, 光致发光谱, 标准偏差, 薄膜, 溅射, spectrophotometer, PL spectra, standard deviation , films , sputtering

中文摘要：

讨论了半导体发光薄膜的光致发光谱修正要点。光致发光结果受到氙灯的光强、温度及薄膜表面的平整度等因素的限制，使得结果可比性差。采用了标准偏差的方法修正了数据，使其具有可比性。

英文摘要：

This paper discussed the emendation of the luminescent spectra of semiconductor films. The photoluminescence （PL） results are affected by the intensity of Xe lamp, temperature and the surface status of films, which decreases the comparability of PL results. By introducing the standard deviation to correct data, it clarifies the relative intensity of different samples at different detective conditions.

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