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Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing
  • ISSN号:1674-733X
  • 期刊名称:Science China-Information Sciences
  • 时间:0
  • 页码:767-777
  • 语言:英文
  • 相关项目:大规模多核系统芯片测试压缩方法研究
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