位置：成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
MOS器件热电子退化的电子辐射实验研究
  • 期刊名称：电子科技大学学报
  • 时间：0
  • 页码：1997，第26卷第6期
  • 语言：中文
  • 相关项目：VLSI／ULSI可靠性的监测与模拟
作者： 陈勇，于奇等|
同期刊论文项目
VLSI／ULSI可靠性的监测与模拟
期刊论文 5
同项目期刊论文
深亚微米MOS器件模型BSIM2及其参数提取
VLSI/ULSI可靠性的监测与模拟
An Analgtical Physical Model for Short-channel MOSFETs
MOSFETs衬底电流模型及参数提取