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Complex Field Fault Modeling-Based Optimal Frequency Selection in Linear Analog Circuit Fault Diagno
ISSN号:0018-9456
期刊名称:IEEE Transactions on Instrumentation and Measureme
时间:2014.4
页码:813-825
相关项目:面向并行工程的电子系统测试性建模方法与技术
作者:
Yang Chenglin|Yang Jing|Liu Zhen|Tian Shulin|
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